Títol: Fundamentals of surface and
thin film analysis
Autor: Feldman, Leonard C.
Editorial: North-Holland
Data d'edició: 1986
Enllaç Catàleg
Títol: Ion beam analysis : a century of
exploiting the electronic and nuclear structure of the atom for
materials characterization
Autor: Jeynes, C ; Webb, R.P. ;
Lohstroh, A.
Editorial: Reviews of accelerator
science and technology
Data d'edició: 2011
Volum: 4
Enllaç Catàleg