Autoritats UB
Encapçalament acceptat
Scanning Electron Microscopy, Inc.
Consulta a Cercabib aquest autor
Emprat per
SEM
Emprat per
S.E.M.
Nom posterior
Scanning Microscopy International
Font
LC/NAF, 2 des. 2011 (enc.: Scanning Electron Microscopy, Inc. ; enc. relacionat: Scanning Microscopy International)
Format MARC
Enllaç permanent
Nova cerca
Ajuda
© Universitat de Barcelona - Centre de Recursos per a l'Aprenentatge i la Investigació
Gestionat per la Unitat de Procés Tècnic
Comentaris