|
|
| |
Canillas i Biosca, Adolf |
| Identificador |
ORCID
|
| |
Consulta a Cercabib aquest autor
|
| |
Documents al Dipòsit Digital de la UB
|
| Emprat per |
Canillas Biosca, Adolf |
| Emprat per |
Canillas, Adolf |
| Emprat per |
Canillas, A. (Adolf) |
| Emprat per |
Canillas Biosca, Adolfo |
| Font |
El·lipsometria ràpida i espectroscòpica aplicada a l'estudi del creixement de capes fines de a-Si:H en un plasma RF : memòria, 1990: port. (Adolf Canillas i Biosca) |
| Font |
BC/A, 28 juny 2011 (enc.: Canillas i Biosca, Adolf) |
| Font |
UB. Directori (en línia), 28 juny 2011 (UB. Directori (en línia), 28 juny. 2011 (Adolfo Canillas Biosca; professor de la Universitat de Barcelona, Dept. de Física Aplicada i Òptica) |
| Id GREC |
02456 |
|
|
